阻抗測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試系統(tǒng)阻抗特性的儀器，通過(guò)阻抗測(cè)試儀可以分析系統(tǒng)的L、C、R分量。例如一個(gè)普通電阻不僅具有電阻分量，其還具有電感或者電容分量，通過(guò)阻抗測(cè)試儀可以對(duì)其進(jìn)行測(cè)量。
阻抗測(cè)試儀性能指標(biāo)：
1.測(cè)試頻率：20 Hz~120 Hz，頻率分辨率：≤1 mHz，基本**度：0.05%，交流電平：電壓10 mV~1 V，電流200 μA~20 mA，直流偏置：內(nèi)置0~100 mA/0~+40 V或﹣40 V~+40 V，阻抗測(cè)試范圍：0.01 mΩ~2GΩ(±0.05%基本精度)
2.提供各種測(cè)試解決方案：①材料和電子零件之測(cè)試分析、薄膜介電系數(shù)、磁導(dǎo)率、人體阻抗及NFC磁片等。②半導(dǎo)體CV量測(cè)、Power MOSfet、EMI、NFC、無(wú)線充電、磁珠及壓電片等。
3.數(shù)據(jù)處理：測(cè)試波形以Bmp格式截圖保存，測(cè)試數(shù)據(jù)以csv格式存儲(chǔ)。波形分析：放大、縮小、*高點(diǎn)、*低點(diǎn)、多點(diǎn)游標(biāo)及多組百萬(wàn)色曲線記憶功能等。四種模式同一操作界面，Hander連接自動(dòng)化分選設(shè)備，LAN、GPIB電腦聯(lián)機(jī)軟件通信功能。